Nalazite se
Članak
Objavljeno: 02.07.2015. 13:28

LANL 

Ispitivanje reaktora u Fukushimi subatomskim česticama

Američki znanstvenici opisuju mogućnost primjene muon-tomografije za ispitivanje vozila, kontejnera, betonskih ploča i oštećenih jezgri reaktora u Fukushimi.

Ispitivanje reaktora u Fukushimi subatomskim česticama

Mali muonski tracker LANL-a. Sa svake strane reaktora u Fukushimi morat će se postaviti po jedan znatno veći. 

Znanstvenici LANL-a (Los Alamos National Lab), otkrili su novi način ispitivanja i mapiranja raznih stvari korištenjem subatomskih čestica koje dolaze iz svemira. Nova tehnologija koju nazivaju muon-tomografijom, temelji se na bilježenju kretanja muona, radioaktivnih čestica koje postoje svugdje, a ta metoda ne uključuje rendgenske zrake, kao ni ultrazvuk.

Sa svake strane onoga što želite ispitati, potrebno je postaviti dva velika muonska aluminijska detektora (trackera), a sustav mjeri putanje i kutove kretanja muonskih čestica. Nakon toga znanstvenici su u mogućnosti skenirati objekt i pronalaziti nesavršenosti poput rupa, napuklina i drugih oštećenja.

No koliko god ovo djelovalo relativno praktično, sustav ima jedan prilično značajan problem koji leži u činjenici da se u svakoj minuti kreće samo po jedan muon u kvadratnom centimetru. To znači da bi trebalo punih 6 sati da se ispita samo jedan mali dio neke cijevi ili objekta koji se istražuje. Znanstvenici LANL-a u tome ne vide neki veliki problem, jer kažu da jedan čovjek može pokrenuti skeniranje, otići na druge zadaće, te se vratiti kasnije kako bi pokupio podatke, a ukoliko se otkrije neki problem, kasnije se može provesti preciznije skeniranje i detaljna inspekcija određenog mjesta.

Mada ovo djeluje kao tehnologija koja se neće tako brzo naći u praktičnoj uporabi, Toshiba je uz pomoć LANL-a već izradila veliki muon detektor, pa želi postaviti trackere od 8,2 kvadratnih metara sa svake strane jezgre reaktora u Fukushimi. Inženjeri Toshibe se nadaju da će im to pomoći u određivanju količina rastopljenog goriva iznutra. 

Izvor: AIP Advances  [pdf]

Vezani sadržaji
Komentari

Učitavam komentare ...

Učitavam













       

*/-->